About: René David

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About: René David Goto Sponge NotDistinct Permalink

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sameAs	David, René (1939-2022 ; physicien) David, René (1939-2022 ; physicien) David, René (1939-2022 ; physicien)
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Given name	René
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note	Directeur de thèse en automatisme à Grenoble INPG Physicien. - Ancien élève des écoles Arts et Métiers (promotion Angers 1958). - Auteur d'une thèse d'État en sciences physiques (Grenoble, Faculté des Sciences, 1969). - Directeur de recherche en automatique au CNRS/Grenoble INPG (1977-1994-), Laboratoire d'automatique de Grenoble (en 1988). - Médaillé d'or en 1964, à Tokyo, aux jeux paralympiques de tir à l'arc ; Créateur d'Iris, système optoélectronique sonore de visée. Chevalier dans l'ordre du mérite en 1986. Il a reçu la médaille d'or de la jeunesse et des sports en 1980 et le prix Nessim-Habif en 2001
gender	male
is Thesis advisor of	http://www.sudoc.fr/128502584/id Diagnostic de fautes dans un circuit combinatoire à l'aide d'expériences de test partiellement aléatoire http://www.sudoc.fr/007163614/id http://www.sudoc.fr/005855551/id http://www.sudoc.fr/012083968/id http://www.sudoc.fr/008604967/id Contribution à l'étude du test aléatoire de mémoires RAM Sur la théorie du test des circuits digitaux, mesures de la confiance Sur la modélisation et l'évaluation de performances de lignes de fabrication non-homogènes Validation d'applications temps-réel par analyse de programmes synchrones temporisés Evaluation des performances d'un réseau de files d'attente à capacité limitée http://www.sudoc.fr/004888898/id http://www.sudoc.fr/042150078/id http://www.sudoc.fr/004930231/id Le modèle GRAFCET, réflexion et intégration dans une plate-forme multiformalisme synchrone http://www.sudoc.fr/005850606/id Test aléatoire de circuits combinatoires, nouvelle mesure de testabilité http://www.sudoc.fr/012523658/id http://www.sudoc.fr/127431853/id http://www.sudoc.fr/043537529/id http://www.sudoc.fr/012565547/id http://www.sudoc.fr/008605173/id http://www.sudoc.fr/005850703/id http://www.sudoc.fr/245448454/id http://www.sudoc.fr/245447520/id http://www.sudoc.fr/24553878X/id http://www.sudoc.fr/126119309/id http://www.sudoc.fr/126117691/id http://www.sudoc.fr/126113513/id Contribution au test autonome des circuits VLSI, un microprocesseur à test aléatoire intégré http://www.sudoc.fr/043715109/id http://www.sudoc.fr/245462848/id http://www.sudoc.fr/245447482/id Modélisation de systèmes à évènements discrets sujets à des pannes Segmentation d'images multi-senseurs en vision tridimentionnelle par ordinateur http://www.sudoc.fr/066777712/id http://www.sudoc.fr/042154537/id http://www.sudoc.fr/245630996/id
is Author of	http://www.sudoc.fr/146181654/id http://www.sudoc.fr/126102643/id http://www.sudoc.fr/142801631/id http://www.sudoc.fr/089014049/id http://www.sudoc.fr/007412053/id http://www.sudoc.fr/043620086/id http://www.sudoc.fr/08283203X/id http://www.sudoc.fr/099328259/id http://www.sudoc.fr/002926156/id http://www.sudoc.fr/131101625/id Du Grafcet aux réseaux de Petri http://www.sudoc.fr/126102635/id Discrete, continuous, and hybrid Petri nets http://www.sudoc.fr/127435204/id http://www.sudoc.fr/130443050/id http://www.sudoc.fr/070790833/id http://www.sudoc.fr/146182138/id Asymptotic and Structural Stability for a Linear 2D Discrete Roesser Model Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test http://www.sudoc.fr/149891148/id Structural Stabilization of Linear 2D Discrete Systems Using Equivalence Transformations Structural Stability and Equivalence of Linear 2D Discrete Systems Hardware Generation of Random Single Input Change Test Sequence Structural stability, asymptotic stability, and exponential stability for linear multidimensional discrete systems: the good, the bad, and the ugly Delay Fault Testing: Choosing Between Random SIC and Random MIC Test Sequences Étude du test des fautes de retard par une séquence aléatoire On Hardware Generation of Random Single Input Change Test An algebraic approach to the observer-based feedback stabilization of linear 2D discrete models On Using Efficient Test Sequences for BIST http://www.sudoc.fr/258583754/id https://hal.archives-ouvertes.fr/lirmm-00268500#id http://www.sudoc.fr/126116350/id http://www.sudoc.fr/123086426/id Delay Fault Testing: Choosing Between Random SIC and Random MIC Test Sequences Test Intégré de Circuits Digitaux : Etude Comparative de l'Efficacité de deux types de Séquences de Test Random Adjacent Sequences: An Efficient Solution for Logic BIST https://zbmath.org/791343#id
is primary topic of	http://www.idref.fr/029503620
is Publishing director of	http://www.sudoc.fr/006104126/id
is Opponent of	http://www.sudoc.fr/012830321/id http://www.sudoc.fr/004897765/id
is Thesis referee of	http://www.sudoc.fr/126096236/id http://www.sudoc.fr/044037945/id

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