About: Croissance par voie électrochimique et propriétés magnétiques et topographique de couches minces de Co sur Si(111)   Goto Sponge  NotDistinct  Permalink

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  • Electrochemical growth of Co thin films on Si (111) and magnetic and topogro
dc:subject
  • Effet Kerr
  • Résonance magnétique nucléaire
  • Thèses et écrits académiques
  • Microscopie à force atomique
  • Analyse électrochimique
  • Electrodéposition
  • Anisotropie
  • Microscopie à Force Atomique (AFM)
  • Kerr, Effet
  • Couches minces semiconductrices
  • SQUID
  • Anisotropie Magnétique
  • Couches Minces de Co/Si
  • Microscopie à Force Magnétique (MFM)
  • Résonance Magnétique Nucléaire (RMN)
preferred label
  • Croissance par voie électrochimique et propriétés magnétiques et topographique de couches minces de Co sur Si(111)
Language
Subject
dc:title
  • Croissance par voie électrochimique et propriétés magnétiques et topographique de couches minces de Co sur Si(111)
Degree granting institution
note
  • Nous avons réalisé des couches minces de Co sur un substrat semi-conducteur (Si(111)) par voix électrochimique, en mode potentiostatique et en mode galvanostatique, et étudié leurs propriétés topographiques (AFM, MEB) et magnétique (RMN, effet Kerr, SQUID), afin de relier ces propriétés aux modes de croissance et aux conditions de dépôt à priori identiques conduisent à des morphologies et donc des propriétés magnétiques très différentes. Nous avons développé une approche rigoureuse avec un contrôle systématique de la qualité du substrat de départ pour clarifier les modes de nucléation et de croissance en fonction du potentiel appliqué en chronoampérométrie. Une transition d’un mode de nucléation instantanée vers un mode de nucléation progressive en fonction du potentiel appliqué est mise en évidence. La modélisation à l’aide du modèle de Scharifker-Hills des modes de nucléation et de croissance est cohérente avec les images de topographie AFM. La croissance est tridimensionnelle du type Volmer-Weber et l’aimantation est orientée dans le plan. Par RMN et également X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS), nous montrons qu’une couche d’hydroxyde de cobalt magnétiquement morte se forme à l’interface avec le Si. En mode galvanostatique, des grains avec des facettes parfaitement cristallisés présentent des domaines magnétiques localisés dans la plupart des ilots. Nous avons également effectué une étude très critique des techniques de dépôt/arrachage employées dans la littérature montrant que celle-ci sont inadaptées aux substrats semi-conducteur, un dépôt subsistant sur la surface quel que soit la technique d’arrachage choisie.
  • We have deposited thin layers of Co on a semiconductor substrate Si(111), by electrochemical method, in potentiostatic and galvanostatic mode, and we have studied their topographic properties (AFM, MEB) and magnetic (RMN, effet Kerr, SQUID). Thanks to these different techniques, we could relate these properties to the growth modes and to the a priori identical deposition conditions, which lead to different morphologies and therefore different magnetic properties. We have developed a rigorous approach with a systematic control of the quality of the substrate in order to clarify the nucleation and growth modes as a function of the potential applied in chronoamperometry. A transition from an instantaneous nucleation mode to a progressive nucleation mode as a function of the applied potential is highlighted. Modeling with Scharifker-Hills model of nucleation and growth modes is consistent with AFM topography images. The growth is three-dimensional of a Volmer-Weber type and the magnetization is oriented in the plane. By NMR and also X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS), we could show that a layer of magnetically dead cobalt hydroxide layer forms at the interface with Si. In galvanostatic mode, grains with perfectly crystallized facets have magnetic domains located in most of the islands. We have also carried out a very critical study of the deposition / tearing techniques used in the literature showing that they are unsuitable for semiconductor substrates, a deposit remaining on the surface whatever the tearing technique chosen.
dc:type
  • Text
http://iflastandar...bd/elements/P1001
rdaw:P10219
  • 2016
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is primary topic of
is rdam:P30135 of
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