About: Etude des fonctions d'asservissement d'un microscope à effet tunnel optique. Application à l'imagerie de caractérisation de composants électroniques nanométriques

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type	frbr:Work rdac:C10001
Thesis advisor	Castagné, Michel
dc:subject	Physique Moindres carrés Thèses et écrits académiques Systèmes non linéaires Systèmes linéaires Imagerie Microscopie électronique Etude experimentale Piézoélectricité Servomécanismes Caracterisation Systeme non lineaire Effet tunnel Commande floue Imagerie (technique) Régulateurs PID Microscopie force atomique Generalites Echelle nanometrique Composants électroniques -- Propriétés optiques Microscope tunnel à balayage -- thèses Systeme lineaire Systeme asservi Composant electronique Microscopie optique champ proche
preferred label	Etude des fonctions d'asservissement d'un microscope à effet tunnel optique. Application à l'imagerie de caractérisation de composants électroniques nanométriques
Language	http://lexvo.org/id/iso639-3/fra
Subject	http://www.idref.fr/028904109/id http://www.idref.fr/02780349X/id http://www.idref.fr/031298559/id http://www.idref.fr/028922964/id http://www.idref.fr/027248690/id http://www.idref.fr/027253139/id http://www.idref.fr/027821501/id http://www.idref.fr/028904141/id http://www.idref.fr/02735279X/id http://www.idref.fr/027579069/id http://www.idref.fr/032326815/id http://www.idref.fr/027822192/id
dc:title	Etude des fonctions d'asservissement d'un microscope à effet tunnel optique. Application à l'imagerie de caractérisation de composants électroniques nanométriques
Degree granting institution	Université des sciences et techniques de Montpellier 2 (1970-2014)
note	LE MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE (AFM POUR ATOMIC FORCE MICROSCOPE) ET LE MICROSCOPE SNOM (SCANNING NEARFIELD OPTICAL MICROSCOPE) PERMETTENT D'OBTENIR RESPECTIVEMENT DES IMAGES DE LA TOPOGRAPHIE ET DU CHAMP PROCHE OPTIQUE D'UNE SURFACE. AVANT D'APPLIQUER UNE BOUCLE D'ASSERVISSEMENT A UN SYSTEME (MICROSCOPE) IL EST NECESSAIRE D'EN CARACTERISER LES DIFFERENTS ELEMENTS. L'OBJECTIF DE CE TRAVAIL EST DE REALISER LES COMMANDES (LOGICIEL D'ASSERVISSEMENT PID ET PI-FLOUE) D'UN DISPOSITIF PERMETTANT D'OBTENIR SIMULTANEMENT DES IMAGES AFM ET PSTM.
dc:type	Text
http://iflastandar...bd/elements/P1001	http://iflastandards.info/ns/isbd/terms/contentform/T1009
rdaw:P10219	1999
has content type	http://rdaregistry.info/termList/RDAContentType/1020
is primary topic of	http://www.idref.fr/247605425
is rdam:P30135 of	http://www.sudoc.fr/048170372/id http://www.sudoc.fr/246414499/id

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