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  • Lakhdar Hadhemi, Labat Nathalie, Curutchet Arnaud, Defrance Nicolas, Lesecq Marie, Dejaeger J.C., Malbert Nathalie. Évaluation de la fiabilité des composants HEMTs AlGaN / GaN à grille nanométrique sur substrat de silicium par des essais de vieillissement accéléré on-state . JNM 2017, May 2017, St MALO, France
Title
  • Évaluation de la fiabilité des composants HEMTs AlGaN / GaN à grille nanométrique sur substrat de silicium par des essais de vieillissement accéléré on-state
dc:date
  • 2017
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