"Microelectronic fabrication" . "CMOS PLA design" . . "Fabrication micro\u00E9lectronique" . . . "Evaluation performance" . "Etude des PLA CMOS. Les 4 aspects suivants sont d\u00E9velopp\u00E9s : \u2015 performance \u00E9lectrique: sp\u00E9cification d'\u00E9valuation \u00E9lectrique et temporelle de PLA par une technique hybride estimation-simulation bas\u00E9e sur la recherche du chemin critique d'E/S dans le PLA; \u2015 distribution des types de pannes en fin de fabrication et leurs manifestations \u00E9lectriques et logiques. Une approche vers le test de PLA CMOS est \u00E9galement pr\u00E9sent\u00E9e; \u2015 am\u00E9lioration du rendement de fabrication par la conception de PLA reconfigurable (ajout de lignes suppl\u00E9mentaires; \u2015 partitionnement de PLA en vue de r\u00E9duire la surface, le temps de r\u00E9ponse, et de faciliter la reconfiguration et l'interconnexion avec les blocs voisins" . "Verification" . "Performance evaluation" . "Pannes" . "Th\u00E8ses et \u00E9crits acad\u00E9miques" . "Simulation" . "Interconnection" . "Integrated circuit" . "MOS technology" . "Technologie MOS" . "Conception de PLA CMOS" . "V\u00E9rification" . "R\u00E9seau logique programmable" . "Conception de PLA CMOS" . . "Analyse temporelle" . "Computer aided design" . "Programmable logic array" . "Rendement" . . "Text" . . . . "Yield" . . . "1986" . "Circuit VLSI" . "Circuits int\u00E9gr\u00E9s" . "Interconnexion" . . "Time analysis" . "Conception assist\u00E9e par ordinateur" . . . "Breakdown" . "R\u00E9seaux logiques programmables" . "Reconstitution" . . "VLSI circuit" .