. "Text" . "Th\u00E8ses et \u00E9crits acad\u00E9miques" . . . "Etude et tra\u00E7abilit\u00E9 du calibrage \\\"Line-Attenuator Reflect\\\" pour des mesures sous pointes \u00E0 l'aide de l'analyseur de r\u00E9seau vectoriel" . . . . "Etude et tra\u00E7abilit\u00E9 du calibrage \\\"Line-Attenuator Reflect\\\" pour des mesures sous pointes \u00E0 l'aide de l'analyseur de r\u00E9seau vectoriel" . "Calcul d'erreur" . "The LAR (Line-Attenuator-Reflect) calibration procedure is particularly attractive because it is already integrated into modern VNAs and it enables broadband measurements with a limited number of standards. On the other hand, only a few studies concern the traceability assessment of this method. That is the reason why the LNE (Laboratoire National de M\u00E9trologie) decided to estimate the traceability and accuracy of S parameters measurement when the LAR calibration method is used. In this context, the thesis can be summarized as follows: 1) Realization of a on wafer calibration kit allowing to execute both the LAR calibration and the Multiline TRL calibration which is considered as the reference calibration for on wafer measurements. 2) Development of a new method in order to estimate the errors due to the fact that the input and output impedances of the standard attenuator is different from 50 \u03A9. This solution is very efficient and it does not require an accurate determination of the reference impedance of the LAR calibration technique. 3) Development of an original method for determining the input and output impedances of the LAR calibration procedure leading to a precise measurement of the reference impedance. 4) Realization of a calibration kit for users, with three different methods to determine the reference impedance. \u25CF Electrical model of the standard attenuator. \u25CF Polynomial interpolation of the reference impedance measurement. \u25CF Development of a new simplified and low cost technique named the LAR-L procedure. 5) Analysis of errors when the substrate of the calibration kit is different from the substrate of the device under test." . "\u00C9talonnage" . "Radiofr\u00E9quences" . "La proc\u00E9dure de calibrage LAR (Line-Attenuator-Reflect), int\u00E9gr\u00E9e dans les analyseurs de r\u00E9seau modernes et qui permet une large bande de mesure avec un nombre limit\u00E9 d\u2019\u00E9talons de r\u00E9f\u00E9rence sur wafer, est particuli\u00E8rement attractive. Par contre, peu d\u2019\u00E9tudes sont r\u00E9alis\u00E9es pour \u00E9valuer sa tra\u00E7abilit\u00E9. C\u2019est pourquoi le LNE (Laboratoire National de M\u00E9trologie et d\u2019Essais) a d\u00E9cid\u00E9 de mener des \u00E9tudes afin d\u2019\u00E9valuer la tra\u00E7abilit\u00E9 et la pr\u00E9cision de mesure quand la m\u00E9thode de calibrage LAR est utilis\u00E9e. Dans ce contexte, nos travaux de th\u00E8se se r\u00E9sument comme suit : 1) R\u00E9alisation d\u2019un kit de calibrage sur Wafer pour ex\u00E9cuter \u00E0 la fois le calibrage LAR et le calibrage Multiline TRL qui constitue le calibrage de r\u00E9f\u00E9rence pour les mesures sur wafer. 2) Proposition d\u2019une m\u00E9thode originale bas\u00E9e sur un calcul d\u2019erreur pour tenir compte du fait que les imp\u00E9dances d\u2019entr\u00E9e et de sortie de l\u2019att\u00E9nuateur \u00E9talon sont diff\u00E9rentes de 50 \u03A9. Outre sa pr\u00E9cision, l\u2019avantage de cette m\u00E9thode est qu\u2019elle ne n\u00E9cessite pas la d\u00E9termination pr\u00E9cise de l\u2019imp\u00E9dance de r\u00E9f\u00E9rence du calibrage LAR. 3) Proposition d\u2019une m\u00E9thode originale analytique pour d\u00E9terminer l\u2019imp\u00E9dance d\u2019entr\u00E9e et de sortie de calibrage et donc l\u2019imp\u00E9dance de r\u00E9f\u00E9rence. 4) R\u00E9alisation d\u2019un kit de calibrage large bande pour les utilisateurs, dont l\u2019imp\u00E9dance de r\u00E9f\u00E9rence du calibrage LAR est peut \u00EAtre obtenue par trois moyens :. \u25CF Mod\u00E9lisation \u00E9lectrique de l\u2019att\u00E9nuateur. \u25CF Mod\u00E9lisation de l\u2019imp\u00E9dance de r\u00E9f\u00E9rence par interpolation polynomiale. \u25CF Mise au point d\u2019une m\u00E9thode simplifi\u00E9e : la proc\u00E9dure LAR-L. 5) Analyse des erreurs dans le cas ou le substrat du kit de calibrage est diff\u00E9rent du substrat du DST \u00E0 mesur\u00E9" . . "2010" . . "Study and traceability of \\\" line-reflect-attenuator \\\" calibration for on-wafer measurements using vector network analyzer" . . . . . . "Mod\u00E8les math\u00E9matiques" .