"Rayons X" . . . "Topographie de surfaces" . "This thesis is concerned with the identification of the defects responsible for laser damage observed on KDP/DKDP crystals used as frequency convertors in high power lasers (Laser megajoule for example). X-ray topographie is a non destructive technique able to characterize lattice imperfections in single crystal. Unfortunately, this analysis can not be performed throughout the whole volume on thick KDP optics (thickness close to 10 mm). Considering the usual energy range radiation used (20-30 keV), the beam is rapidly absorbed by the material. However, this problem can be solved by the use of high energy X-Ray radiation. The principle of this unconventianal device is exposed. The results obtained are shown along with corresponding laser damage measurements in order to identify the precursor defects. Moreover, new data on thermal decomposition of KDP are exposed and we report a thermal treatment able to increase the laser damage resistance." . "Determination of the structural and microstructural defects responsible for laser damage in KDP crystal" . "La conversion de fr\u00E9quence de l'infrarouge \u00E0 l'ultraviolet dans les lasers de puissance comme le laser m\u00E9gajoule est assur\u00E9e par des monocristaux de dihydrog\u00E9nophosphate de potassium, KH2PO4 (commun\u00E9ment appel\u00E9 KDP). Ces cristaux s'endommagent lorsqu'ils sont soumis \u00E0 des flux lasers importants, ce qui est pr\u00E9judiciable pour l'application vis\u00E9e. Les travaux pr\u00E9sent\u00E9s dans ce manuscrit visent \u00E0 expliquer l'origine de ces dommages et, si possible, de proposer un traitement permettant d'y rem\u00E9dier. La d\u00E9marche adopt\u00E9e est, dans un premier temps, d'identifier et de localiser les d\u00E9fauts pr\u00E9sents dans les cristaux puis, dans un second temps, de corr\u00E9ler leur pr\u00E9sence \u00E0 l'endommagement par des tests sous irradiation laser contr\u00F4l\u00E9e. Por ce faire, la topographie X, technique d'imagerie non destructive, est particuli\u00E8rement adapt\u00E9e. Toutefois, les optiques pr\u00E9sentent une \u00E9paisseur trop importante (10 mm) pour \u00EAtre caract\u00E9ris\u00E9es avec le faisceau de rayons X monochromatique habituellement utilis\u00E9 en laboratoire. Pour r\u00E9soudre ce probl\u00E8me, il a fallu faire appel \u00E0 un dispositif non conventionnel de topographie X sous faisceau polychromatique haute \u00E9nergie. Cette technique a permis de mettre en \u00E9vidence un certain nombre de d\u00E9fauts. Leur caract\u00E8re p\u00E9nalisant vis-\u00E0-vis de la tenue au flux est ensuite discut\u00E9 \u00E0 partir des rf\u00E9sultats des tests d'endommagement laser." . . . "Topographie" . . . "Lasers" . . "Th\u00E8ses et \u00E9crits acad\u00E9miques" . "D\u00E9termination des \u00E9l\u00E9ments structuraux et microstructuraux responsables des ph\u00E9nom\u00E8nes d'endommagement laser dans les cristaux de KDP" . . . "2007" . . "Monocristaux" . "D\u00E9termination des \u00E9l\u00E9ments structuraux et microstructuraux responsables des ph\u00E9nom\u00E8nes d'endommagement laser dans les cristaux de KDP" . . . "Surfaces (physique)" . . "Text" . . .