About: Gérard Ghibaudo

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Attributes	Values
type	Person
sameAs	Ghibaudo, Gérard (19..-.... ; auteur en électronique) Ghibaudo, Gérard (19..-.... ; auteur en électronique) Ghibaudo, Gérard (19..-.... ; auteur en électronique)
Life Event	http://www.idref.fr/069253099/birth
preferred label	Ghibaudo, Gérard (19..-.... ; auteur en électronique)
name	Gérard Ghibaudo
dbpedia-owl:citizenship	http://sws.geonames.org/3017382/
Language	http://lexvo.org/id/iso639-3/fra
Given name	Gérard
familyName	Ghibaudo
has biographical i...tion (Deprecated)	Auteur d'une thèse de docteur-ingénieur en électronique (Grenoble INPG, 1981) et d'une thèse d'État en sciences physiques (Grenoble INPG, 1984). - Directeur de thèse à Grenoble INPG (-1988-1994-), en poste à l'Institut de microélectronique, électromagnétisme et photonique (IMEP) (en 2002) ; Directeur de thèse à Grenoble Alpes en 2015
gender	male
ORCID iD	0000-0001-9901-0679
Scopus ID	36048011700
is sameAs of	Ghibaudo, Gérard (19..-.... ; auteur en électronique) Ghibaudo, Gérard (19..-.... ; auteur en électronique) Ghibaudo, Gérard (19..-.... ; auteur en électronique) Ghibaudo, Gérard (19..-.... ; auteur en électronique)
is Thesis advisor of	http://www.sudoc.fr/106984691/id http://www.sudoc.fr/118713132/id http://www.sudoc.fr/130265993/id http://www.sudoc.fr/203172108/id Contribution à la modélisation et à l'extraction des paramètres de tension de seuil, de résistance série et de réduction de longueur dans les transistors MOS submicroniques Contribution à l'étude expérimentale du transport dans les transistors de dimensions déca-nanométriques des technologies CMOS sub 45nm http://www.sudoc.fr/140540334/id http://www.sudoc.fr/188870768/id http://www.sudoc.fr/013192434/id http://www.sudoc.fr/008652937/id http://www.sudoc.fr/189861665/id http://www.sudoc.fr/203016165/id http://www.sudoc.fr/12610493X/id http://www.sudoc.fr/165099550/id http://www.sudoc.fr/191730866/id http://www.sudoc.fr/115007628/id http://www.sudoc.fr/166416185/id http://www.sudoc.fr/162530951/id http://www.sudoc.fr/159353912/id http://www.sudoc.fr/110463587/id http://www.sudoc.fr/043626955/id Étude des mécanismes de défaillance des diélectriques de grille minces pour les technologies CMOS avancées http://www.sudoc.fr/142981184/id http://www.sudoc.fr/189587237/id http://www.sudoc.fr/066777860/id http://www.sudoc.fr/069252882/id http://www.sudoc.fr/074620347/id http://www.sudoc.fr/078646405/id http://www.sudoc.fr/113612052/id http://www.sudoc.fr/192678914/id http://www.sudoc.fr/176617523/id http://www.sudoc.fr/10360569X/id http://www.sudoc.fr/108435709/id http://www.sudoc.fr/196428505/id http://www.sudoc.fr/176514260/id http://www.sudoc.fr/191197025/id http://www.sudoc.fr/223613657/id http://www.sudoc.fr/071203427/id http://www.sudoc.fr/195763408/id http://www.sudoc.fr/053759664/id http://www.sudoc.fr/185827276/id http://www.sudoc.fr/137609876/id http://www.sudoc.fr/144617935/id http://www.sudoc.fr/169084078/id http://www.sudoc.fr/202986063/id Étude de la restructuration de couches de silicium désordonné par implantation ionique, effet du recuit thermique sur les propriétés électriques et structurales http://www.sudoc.fr/220946248/id http://www.sudoc.fr/142959995/id http://www.sudoc.fr/180382691/id http://www.sudoc.fr/192727958/id http://www.sudoc.fr/049586920/id http://www.sudoc.fr/223651826/id http://www.sudoc.fr/071596933/id http://www.sudoc.fr/178128449/id http://www.sudoc.fr/185822231/id http://www.sudoc.fr/177826371/id http://www.sudoc.fr/191924318/id http://www.sudoc.fr/175800448/id http://www.sudoc.fr/155593080/id Caractérisation et modélisation des mémoires Flash embarquées destinées aux applications faible consommation et à forte contrainte de fiabilité. http://www.sudoc.fr/171683234/id http://www.sudoc.fr/191608122/id http://www.sudoc.fr/223613541/id http://www.sudoc.fr/137603207/id http://www.sudoc.fr/198277598/id http://www.sudoc.fr/140481761/id http://www.sudoc.fr/071379150/id http://www.sudoc.fr/049578332/id http://www.sudoc.fr/085511625/id http://www.sudoc.fr/087195771/id http://www.sudoc.fr/131956825/id http://www.sudoc.fr/143253166/id Étude des mécanismes de dégradation et de défaillance des oxydes ultra-minces, application à la fiabilité des technologies CMOS sub-0.25µm Caractérisation et modélisation des transistors CMOS des technologies 50 nm et en deçà http://www.sudoc.fr/114954429/id http://www.sudoc.fr/11834482X/id http://www.sudoc.fr/132044072/id http://www.sudoc.fr/137561075/id http://www.sudoc.fr/142967181/id http://www.sudoc.fr/069708940/id http://www.sudoc.fr/204736684/id

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